发明名称 Verfahren zur Herstellung von dotierten Halbleiterscheiben aus Silizium und derartige Halbleiterscheiben
摘要 Gegenstand der Erfindung ist das Verfahren zur Herstellung von dotierten Halbleiterscheiben aus Silizium, die einen elektrisch aktiven Dotierstoff wie Bor, Phosphor, Arsen oder Antimon enthalten, gegebenenfalls zusätzlich mit Germanium dotiert sind und eine bestimmte Wärmeleitfähigkeit aufweisen, wobei ein Einkristall aus Silizium hergestellt und zu Halbleiterscheiben weiterverarbeitet wird, und die Wärmeleitfähigkeit durch eine Auswahl der Konzentration des elektrisch aktiven Dotierstoffs und gegebenenfalls durch die Konzentration von Germanium eingestellt wird. Gegenstand der Erfindung sind auch mit dem Verfahren hergestellte Halbleiterscheiben aus Silizium mit bestimmten Eigenschaften bezüglich der Wärmeleitfähigkeit und des spezifischen elektrischen Widerstands.
申请公布号 DE102004039197(A1) 申请公布日期 2006.03.02
申请号 DE200410039197 申请日期 2004.08.12
申请人 SILTRONIC AG 发明人 KRAUTBAUER, RUPERT;FREY, CHRISTOPH;ZITZELSBERGER, SIMON;LEHMANN, LOTHAR
分类号 C30B15/04;C30B29/06;C30B31/12 主分类号 C30B15/04
代理机构 代理人
主权项
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