发明名称 用于光学记录/复制装置之错误信号侦测装置
摘要 一种用于光学记录/复制装置之错误信号侦测装置,此装置包括一相侦测器用来接收被一记录媒体所反射及绕射之光线;及一信号处理器,用来藉由计算此相侦测器之一侦测信号而侦测一错误信号。在此,该相侦测器包括用来独立地接收一光区域之光线的一些光线接收区域,在此光区域中,此光线的轮廓根据此记录媒体的切线歪斜而改变到相反。该信号处理器从此光线接收区域的侦测信号中侦测一切线歪斜错误。因此,当在接物镜中偏移产生时,或在介于此接物镜与此磁碟之距离从此焦点位置离开时,从此错误信号侦测装置所输出之一信号并未敏感地改变,相同地,根据在地面/沟漕格式中有关于一记录媒体之接物镜的一相对切线歪斜之光束的轮廓方面上的变化,可被适当地侦测,以使得一准确的切线歪斜错误信号可被侦测。
申请公布号 TWI250520 申请公布日期 2006.03.01
申请号 TW090105879 申请日期 2001.03.13
申请人 三星电子股份有限公司 发明人 马炳寅;郑钟三;朴仁植;崔炳浩;都台熔
分类号 G11B7/095 主分类号 G11B7/095
代理机构 代理人 陈恕琮 台北市中山区林森北路575号11楼之3
主权项 1.一种用于一光学记录/复制装置之错误信号侦测 装置,包括:一相侦测器,用来接收被一记录媒体所 反射与绕射之光线,该相侦测器具有至少六个分开 的结构,包含:一第一内部光线接收区域与一第二 内部光线接收区域,被排列在此记录媒体之一磁轨 的一切线方向上;一第一外部光线接收区域与一第 二外部光线接收区域,被排列在该记录媒体之一半 径方向上的第一内部光线接收区域之两侧上;一第 三外部光线接收区域与一第四外部光线接收区域, 被排列在此记录媒体之一半径方向上的第二内部 光线接收区域之两侧上的第一及第二外部光线接 收区域的一侧上;及 一信号处理器用,来藉由计算此相侦测器之一侦测 信号而侦测出一错误信号,该信号处理器包含:一 第一加法器,用来加总第一内部光线接收区域的侦 测信号与第三及第四外部光线接收区域的侦测信 号;一第二加法器,用来加总第二内部光线接收区 域的侦测信号与第一及第二外部光线接收区域的 侦测信号;及一减法器,用来减去从此第一及第二 加法器所接收之侦测信号且输出一切线歪斜错误 信号。 2.如申请专利范围第1项所述的装置,在其中,此信 号处理器进一步包括一增益控制器,用来加上一预 定增益到被输入到此减法器之信号的至少一个信 号上。 3.如申请专利范围第1项所述的装置,在其中,此信 号处理器加上一预定增益(k)到在这些差异信号之 一端上的至少一个信号上。 4.如申请专利范围第2项所述的装置,在其中,此信 号处理器加上一预定增益(k)到在这些差异信号之 一端上的至少一个信号上。 5.如申请专利范围第1项中所述的装置,在其中,此 信号处理器进一步包括一增益控制器,用来加上一 预定增益(k)到被输入到此减法器之信号的至少一 个信号上。 6.如申请专利范围第2项中所述的装置,在其中,此 信号处理器进一步包括一增益控制器,用来加上一 预定增益(k)到被输入到此减法器之信号的至少一 个信号上。 7.如申请专利范围第1项到第6项中任一项所述的装 置,在其中,此记录媒体为在地面/沟槽格式中,且从 此信号处理器所输出之切线歪斜错误信号根据一 地面/沟槽而显示出相反极性。 8.如申请专利范围第7项所述的装置,在其中,此信 号处理器进一步包括一反向器,其可根据用来决定 一地面或沟槽之一系统控制器的一地面/沟槽决定 直,而选择性地反向及输出此被侦测的切线歪斜错 误信号之极性。 9.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述的 装置,在其中,此相侦测器包括被排列在此记录媒 体之一磁轨的切线方向上的第一及第二内部光线 接收区域、被排列在此记录媒体的一半径方向上 之第一内部光线接收区域的两侧上之第一及第二 外部光线接收区域,及各别地被排列在此记录媒体 的一半径方向上之第二内部光线接收区域的两侧 上之第二及第一外部光线接收区域的一侧上之第 三及第四外部光线接收区域,且具有至少六个分开 的结构; 在其中,在此相侦测器的第一与第二内部光线接收 区域之半径方向上的宽度被提供来接收一第0次绕 射光线之直径的大约10%-80%,此第0次绕射光线系藉 由被此记录媒体所反射/绕射而被入射。 10.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,当有关于一预定的参考位准之在+1 及-1之切线歪斜上所侦测之信号的强度各别地为 v1及v2时,在一开启一磁轨状态中的一磁轨之中央 上被侦测的一斜率错误値为使得(v1 - v2)/(v1 + v2)之 最大绝对値等于或小于0.2。 11.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,当有关于一特别的参考位准之在+1 及-1之切线歪斜上所侦测之信号的强度各别地为 v1及v2时,在一开启一磁轨状态中的一磁轨之中央 上被侦测的一斜率错误値,为使得从此特别的参考 位准到v1或v2之最小绝对値为在一关闭一磁轨状态 中之一正常状态中被侦测的一磁轨化错误信号之 最大値的大约20%。 12.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,此切线歪斜错误信号系藉由使用 从在一关闭一磁轨状态中之信号处理器所输出之 一信号的一波峰一对一波峰値,或使用在一磁轨错 误信号为零的点上之信号处理器所输出之一信号 的强度而计算。 13.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,此切线歪斜错误信号系藉由使用 一零位交错信号,或一信号的一峰値之时间差而被 计算,它们系被侦测及从在一关闭一磁轨状态中之 这些光线接收区域之中的至少一个光线接收区域 所输出。 14.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,从此信号处理器所输出之切线歪 斜错误信号被输入到一伺服控制器,且被输入之此 切线斜斜错误信号的一低频成份被从一磁轨化错 误信号中加上或减去,以修正一磁轨化错误信号的 偏移。 15.如申请专利范围第1项到第6项之任一项中所述 的装置,在其中,此切线歪斜错误信号被输入到一 伺服控制器,且被输入之此切线歪斜错误信号的一 低频成份放大一磁轨化错误信号的增益。 16.如申请专利范围第15项所述的装置,在其中,一磁 轨化错误信号的增益系根据此切线歪斜错误信号 的绝对値而被控制。 图式简单说明: 图1为一视图,显示出一个一般拾光器; 图2为一视图,显示出一传统斜率错误信号侦测装 置; 图3为一概略视图,显示出被在地面/沟槽格式中之 磁碟所反射/绕射之光线; 图4A到图4C各别地显示出被图3的磁碟所反射/绕射 及在每一个下列情况中被此相侦测器所接收之光 束的轮廓,在这些情况中,负切线歪斜已发生,切线 歪斜未发生,且正切线歪斜未发生; 图5为一视图,显示出根据本发明的一个较佳实施 例之一种用于一光学记录/复制装置之错误信号侦 测装置的结构; 图6为一视图,显示出图5的一相侦测器之其它实施 例; 图7到图10为视图,显示出根据本发明的其它较佳实 施例之错误信号侦测装置; 图11到图18为图,用来解释一种原理,在其中根据本 发明之此种用于一光学记录/复制装置之错误信号 侦测装置侦测一切线歪斜错误信号; 图19为一方块图,显示出根据本发明的另一个较佳 实施例之一种用于一光学记录/复制装置之错误信 号侦测装置的结构;及 图20为一方块图,显示出一个实施例,在其中根据本 发明之此种用于一光学记录/复制装置之错误信号 侦测装置的一侦测信号被应用于一磁轨错误信号 的侦测。
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