发明名称 System and method of measuring low impedances
摘要
申请公布号 EP1413891(B1) 申请公布日期 2006.03.01
申请号 EP20030256572 申请日期 2003.10.17
申请人 HEWLETT-PACKARD DEVELOPMENT COMPANY, L.P. 发明人 KANTOROVICH, ISAAC;ROOT, STEPHEN C.;HOUGHTON, CHRISTOPHER L.;ST. LAURENT, JAMES J.
分类号 G01R27/20;G01R27/02;G01R31/30;G01R31/316;G06F11/24 主分类号 G01R27/20
代理机构 代理人
主权项
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