| 发明名称 | 测试用的薄膜探针 | ||
| 摘要 | 本实用新型是一种测试用的薄膜探针，包括：一薄膜结构；数个导电条，其设置于该薄膜结构表面上，以连接外部测试信号；数个导电区，其设置于该薄膜结构表面上，且每二个导电区分别相对设置于每一该导电条的二端，每一该导电区包含数个导电部，这些导电部与该这些导电条形成电连接且通过这些导电条输入外部测试信号并与电子产品的该金手指状接点相接触。导电部通过导电条输入外部测试信号并与金手指状接点相接触以达到测试效果。 | ||
| 申请公布号 | CN2762143Y | 申请公布日期 | 2006.03.01 |
| 申请号 | CN200420122236.4 | 申请日期 | 2004.12.31 |
| 申请人 | 环国科技股份有限公司 | 发明人 | 郑秋雄 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01) | 主分类号 | G01R1/067(2006.01) |
| 代理机构 | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孙皓晨;贺华廉 |
| 主权项 | 1、一种测试用的薄膜探针，其特征在于包括：一薄膜结构；数个导电条，其设置于该薄膜结构表面上，以连接外部测试信号；以及数个导电区，其设置于该薄膜结构表面上，且每二个导电区分别相对设置于每一该导电条的二端，每一该导电区包含数个导电部，这些导电部与该这些导电条形成电连接且通过这些导电条输入外部测试信号并与电子产品的该金手指状接点相接触。 | ||
| 地址 | 中国台湾 | ||