发明名称 MARGIN TEST METHODS AND CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP1629622(A2) 申请公布日期 2006.03.01
申请号 EP20040752834 申请日期 2004.05.20
申请人 RAMBUS INC. 发明人 GARLEPP, BRUNO, W.;CHEN, FRED, F.;HO, ANDREW;STOJANOVIC, VLADIMIR
分类号 H04L1/20;H04L1/24;H04L25/03;(IPC1-7):H04L1/24 主分类号 H04L1/20
代理机构 代理人
主权项
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