发明名称 | 光检测装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种光检测装置,其目的在于使光入射的二次元位置的检测处理实现高速化以及结构的简化。在二次元配列有像素(11<SUB>MN</SUB>)的光感应区域(10)中,将根据分别入射的光的强度输出相应电流的多个光感应部分(12<SUB>MN</SUB>、13<SUB>MN</SUB>)邻接设置在同一面内,构成一个像素(11<SUB>MN</SUB>),在二次元配列的第一方向上使各像素(11<SUB>MN</SUB>)的一方的光感应部分(12<SUB>MN</SUB>)彼此电连接,在第二方向上使各像素(11<SUB>MN</SUB>)的另一方的光感应部分(13<SUB>MN</SUB>)彼此电连接,分别构成光感应部分群。包括将电压输出转换成光感应部分群各自的电流输出的积分电路,以及用于使该电压输出在合适的范围内转变成数字输出的A/D转换电路。 | ||
申请公布号 | CN1742191A | 申请公布日期 | 2006.03.01 |
申请号 | CN200480002700.9 | 申请日期 | 2004.01.16 |
申请人 | 浜松光子学株式会社 | 发明人 | 杉山行信;水野诚一郎 |
分类号 | G01B11/00(2006.01) | 主分类号 | G01B11/00(2006.01) |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙淳 |
主权项 | 1.一种光检测装置,其为具有二次元排列有像素的光感应区域的光检测装置,其特征在于:将根据分别入射的光的强度输出相应电流的多个光感应部分邻接设置在同一面内,构成一个像素,使横跨排列于所述二次元排列中的第一方向的多个像素的、构成该各个像素的多个光感应部分中的一方的光感应部分彼此电连接,使横跨排列于所述二次元排列中的第二方向的多个像素的、构成该各个像素的多个光感应部分中的另一方的光感应部分彼此电连接,其中包括:第一积分电路,设置成与在排列于所述第一方向的所述多个像素间电连接的一方的光感应部分群相对应,将来自对应的一方的光感应部分群的电流输出转换成电压输出,并输出电压输出;第一最大值检测电路,检测所述第一积分电路各自输出的电压输出的最大值;第一A/D转换电路,将从通过所述第一最大值检测电路检测的所述最大值到比所述最大值小预定值的值的范围设为A/D转换范围,在所述A/D转换范围中将从所述第一积分电路各自输出的电压输出转换成数字值,并输出所述数字值;第二积分电路,设置成与在排列于所述第二方向的所述多个像素间电连接的另一方的光感应部分群相对应,将来自对应的另一方的光感应部分群的电流输出转换成电压输出,并输出电压输出;第二最大值检测电路,检测所述第二积分电路各自输出的电压输出的最大值;和第二A/D转换电路,将从通过所述第二最大值检测电路检测的所述最大值到比所述最大值小预定值的值的范围设为A/D转换范围,在所述A/D转换范围中将从所述第二积分电路各自输出的电压输出转换成数字值,并输出所述数字值。 | ||
地址 | 日本国静冈县 |