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经营范围
发明名称
TESTER ARCHITECTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号
EP1629289(A1)
申请公布日期
2006.03.01
申请号
EP20040752968
申请日期
2004.05.21
申请人
TESEDA CORPORATION
发明人
LIMAYE, AJIT, M.;DECHER, PETER, H.;NIEHAUS, HORST, ROLAND
分类号
G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/3185
代理机构
代理人
主权项
地址
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