| 主权项 |
1.一种用于保护在基板上形成之具有护罩(1)之积体电路(13)之装置,(此护罩至少将积体电路(13)之一部份覆盖),以及信号发射器(2),信号接收器(3),至少两个在信号发射器(2)与信号接收器(3)之间延伸的导轨(4,5),与包括与信号发射器(2)与信号接收器(3)连接之控制一与评量装置(8),以及具有涂布在基板上之覆盖层,其特征为:此护罩(1)具有切换装置(6),因此在第一切换状态中可实行电容式测量方法,以及在第二切换状态中可侦测护罩(1)的损坏。2.如申请专利范围第1项之装置,其中此切换装置(6)设置于导轨(4,5)的一部份中。3.如申请专利范围第1或2项之装置,其中此切换装置(6)具有多个开关(7),其各设于导轨(4)中。4.如申请专利范围第1或2项之装置,其中须将各两个导轨(4,5)相邻配置,使得可以作电容或耦合。5.如申请专利范围第1或2项之装置,其中各具有开关(7)之导轨(4)与没有开关之导轨(5)须相邻配置,使得可以作电容或耦合。6.如申请专利范围第3项之装置,其中各具有开关(7)之导轨(4)与没有开关之导轨(5)须相邻配置,使得可以作电容式耦合。7.如申请专利范围第4项之装置,其中各具有开关(7)之导轨(4)与没有开关之导轨(5)须相邻配置,使得可以作电容式耦合。8.如申请专利范围第4项之装置,其中此两个导轨(4,5)直接彼此相邻延伸。9.如申请专利范围第5项之装置,其中此两个导轨(4,5)直接彼此相邻延伸。10.如申请专利范围第4项之装置,其中介于两个导轨(4,5)之间至少设置另一个导轨(15)。11.如申请专利范围第5项之装置,其中介于两个导轨(4,5)之间至少设置另一个导轨(15)。12.如申请专利范围第10项之装置,其中另一个导轨(15)是浮接式的。13.如申请专利范围第11项之装置,其中另一个导轨(15)是浮接式的。14.如申请专利范围第3项之装置,其中此切换装置(6)的开关(7)与控制与评量装置(8)连接,并且可经由它而控制。15.如申请专利范围第1项之装置,其中此护罩(1)之信号接收器(3)与控制一与评量装置(8)连接。16.如申请专利范围第1或2项之装置,其中此切换装置(6)是信号发射器(2)之一部份。17.如申请专利范围第3项之装置,其中此切换装置(6)是信号发射器(2)之一部份。18.如申请专利范围第14项之装置,其中此切换装置(6)是信号发射器(2)之一部份。19.一种用于保护在基板中形成之积体电路(13)以防止〝逆向工程〞(reverse engineering)之方法,而具有如申请专利范围第1至8项中任一项之装置,并具有以下之步骤:(a)藉由此控制一与评量装置(8)选择切换装置(6)之切换状态,(b)藉由发射装置(2)在导轨(4,5)上各施加信号,(c)藉由此控制一与评量装置(8)而评量由信号接收器(3)所接收之信号,(d)当藉由控制一与评量装置(8)评量此等信号时,导致积体电路之功能交换,(e)如果是所预期之信号,则重覆步骤(a)至(d)。20.如申请专利范围第19项之方法,其中此切换状态之选择是藉由此控制一与评量装置(8)选择式或交替地实施。21.如申请专利范围第19或20项之方法,其中此切换状态周期地或在随机时间间隔中改变。22.如申请专利范围第19或20项之方法,其中当切换装置(6)是在第二切换状态中时,至少此在具有开关(6)之导轨(4)与在相邻之不具有开关之导轨(5)上所施加之信号是不同的。23.如申请专利范围第21项之方法,其中当切换装置(6)是在第二切换状态中时,至少此在具有开关(6)之导轨(4)与在相邻之不具有开关之导轨(5)上所施加之信号是不同的。图式简单说明:第1图是根据本发明装置之主要结构,其在正常的操作模式中用以保护在基板中形成的积体电路。第2图是根据本发明装置之主要说明,在其中可实施电容式的测量方法。第3图是根据本发明装置之另一实施例。 |
