发明名称 光波面测定装置,光波面测定方法及光源装置之调整方法
摘要 光波面测定装置(2、2a、42)系具有将由光学读写头装置(1、31)所射出之光束分离为第1光束与第2光束之分离元件(7a、47a)、显示由第1光束形成的干涉条纹之第1干涉条纹显示部(21、21a)、令第2光束之波面以光轴(AX2)为中心进行旋转之杜夫棱镜(Dove Prism)(13、53)、以及显示透过该棱镜之第2光束所形成干涉条纹之第2干涉条纹显示部(22、22a)。在光源装置之调整方面,可趋近干涉条纹显示部(21、22、21a、22a)所显示之干涉条纹之形状般,调整光学读写头装置(1、31)之准直器(5)之位置朝向光轴方向。
申请公布号 TW200422651 申请公布日期 2004.11.01
申请号 TW092132105 申请日期 2003.11.17
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 竹下伸夫;藤田辉雄;的崎俊哉;田所通博
分类号 G02B27/42 主分类号 G02B27/42
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本