| 发明名称 | 棒状透镜阵列检测装置、棒状透镜阵列检测方法和传送装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种棒状透镜阵列检测装置。本发明目的是提供一种以简单的结构，可进行两个方向的光学检测的棒状透镜阵列检测装置。本发明提供的棒状透镜阵列检测装置，其具有配置了测定用模图的光源和与带有线传感器的上述光源对面配置的检测机构，使棒状透镜阵列通过上述光源和检测机构之间的测定区域，使来自上述光源的检测光入射到上述棒状透镜阵列并检测该棒状透镜阵列的光学性能，其特征在于，具有承载测定光学性能的棒状透镜阵列并通过使其在上述光源和检测机构之间的区域往复运动，使上述棒状透镜阵列2次通过上述测定区域的传送机构；和使上述光源及检测机构以上述检测光的光轴为中心旋转90度的旋转机构。 | ||
| 申请公布号 | CN1243228C | 申请公布日期 | 2006.02.22 |
| 申请号 | CN200410039365.1 | 申请日期 | 2004.01.30 |
| 申请人 | 三菱丽阳株式会社 | 发明人 | 小池和权;多田尚吾 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01);B65G25/02(2006.01);B65G25/08(2006.01);B65G47/28(2006.01) | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 熊志诚 |
| 主权项 | 1.一种棒状透镜阵列检测装置，其具有配置了测定用模图的光源和与带有线传感器的上述光源对面配置的检测机构，使棒状透镜阵列通过上述光源和检测机构之间的测定区域，使来自上述光源的检测光入射到上述棒状透镜阵列并检测该棒状透镜阵列的光学性能，其特征在于，具有：传送装置，其具有承载台，能够通过连接在真空吸引装置上的吸引孔吸引、承载上述棒状透镜阵列，将上述棒状透镜阵列承载在该承载台上，通过在上述光源与检测机构之间的测定区域中往复运动，使上述棒状透镜阵列2次通过上述测定区域；以及，旋转机构，通过由与上述检查光平行的光轴旋转的驱动器，使上述测定用模图和线传感器以上述检查光的光轴为中心旋转90度。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||