发明名称 Method for fabricating the impurity region in semiconductor device
摘要
申请公布号 KR100552851(B1) 申请公布日期 2006.02.22
申请号 KR20030094759 申请日期 2003.12.22
申请人 发明人
分类号 H01L21/265 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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