发明名称 | 一种形成翅片场效应晶体管的方法 | ||
摘要 | 在一种FinFET集成电路工艺中,翅片在体区以体厚度形成,然后在体外面的源/漏区加厚以改进导电性。加厚通过外延淀积完成而栅覆盖一层复合物栅覆盖层,以阻止栅的加厚,可以缩短栅到源/漏。 | ||
申请公布号 | CN1641845A | 申请公布日期 | 2005.07.20 |
申请号 | CN200410092683.4 | 申请日期 | 2004.11.16 |
申请人 | 国际商业机器公司 | 发明人 | 约臣·C·贝恩特纳尔 |
分类号 | H01L21/335;H01L21/8234 | 主分类号 | H01L21/335 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 秦晨 |
主权项 | 1.一种形成FinFET的方法,包括如下步骤:在一个硅衬底上形成一套具有翅片高度和翅片厚度的翅片;形成一个栅,含有的栅高度大于所述翅片高度,并与所述翅片在一个体区域交叉并通过一个栅绝缘体与之分开;淀积第一暂时材料到所述翅片上和所述栅高度下的第一水平;在所述栅上形成一个保形层;使用所述保形层作为一个硬掩膜,刻蚀所述暂时材料,由此形成所述栅之上的复合栅覆盖物并暴露所述翅片的边;以及增加所述翅片的厚度,而所述栅通过所述栅覆盖物与所述一套翅片隔离。 | ||
地址 | 美国纽约 |