通用测量转接器系统

摘要

本发明涉及一种转接或接触于封装中半导体组件的通用测量转接器，其用以电性操作及测量该等半导体组件；其中，该封装的管脚或接触垫会在一特殊的插座中电性接触到输出侧上，并且，该插座在装置侧(输出侧)上具有接触管脚，该等接触管脚的管脚配置则是对应于在该插座内接触该封装的管脚配置。本发明创作出一种通用测量系统，其中，管脚的数量可不管该封装而永远在相同位置进行接取，并且，适合于具有任何数量的管脚以及管脚构型的扩张期。其中，包括至少一转接器板的插座转接器乃配置在该插座与一具有一标准接触配置的PGA插座间。该插座转接器乃在一永远有相同方向的特殊型态中描绘出该封装的个别连接的重新接线。

主权项

1.一种用于转接、或接触在最多变化封装中的半导体组件以对该等半导体组件进行电性操作以及测量的通用测量系统，在该系统中，该封装的管脚、或接触垫乃电性接触于一特殊适应插座的输入侧上，该插座在装置侧(输出侧)上具有接触管脚，且该等接触管脚的管脚配置乃会对应于在该插座中所接触的该封装的管脚配置，其特征在于，一包括至少一转接器板的插座转接器(8)乃配置在该插座(3)以及一具有标准接触配置的PGA插座(15)间，且该转接器乃复制该封装(1)在一特殊网格(14)中的各个具有相同方向的终端的重新分配路线。