发明名称 SYSTEM AND METHOD FOR CHARACTERIZING LITHOGRAPHY EFFECTS ON A WAFER
摘要
申请公布号 EP1627258(A2) 申请公布日期 2006.02.22
申请号 EP20040729689 申请日期 2004.04.27
申请人 KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 ZIGER, DAVID;QIAN, STEVEN
分类号 G03F7/20;(IPC1-7):G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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