| 发明名称 | 断层造影设备以及用于断层造影设备的方法 | ||
| 摘要 | 本发明的断层造影设备以及本发明的用于断层造影设备的方法，使得可以按照简单和有效的方式在所测量的探测器输出信号x(i，j)以及至少一个X射线辐射器输入值y(i)的基础上，计算取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))的针对探测器元件的系数s<SUB>n</SUB> (j)以及取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))的针对X射线辐射器的系数q<SUB>m</SUB> (i)，从而可以精确地确定由X射线辐射器(1)发出的并对相应探测器元件(3)起作用的X射线的强度。 | ||
| 申请公布号 | CN1737549A | 申请公布日期 | 2006.02.22 |
| 申请号 | CN200510092064.X | 申请日期 | 2005.08.16 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | 比约恩·海斯曼;西尔克·詹森 |
| 分类号 | G01N23/083(2006.01);A61B6/00(2006.01);G06F19/00(2006.01);G01T1/16(2006.01) | 主分类号 | G01N23/083(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 邵亚丽;李晓舒 |
| 主权项 | 1.一种带有X射线辐射器(1)和探测器(2)的断层造影设备，其中探测器包括多个用于产生探测器输出信号x(i，j)的探测器元件(3)，该断层造影设备包括计算装置(4)，其从至少一个探测器元件(3)的探测器输出信号x(i，j)以及X射线辐射器(1)的至少一个可以预定的X射线辐射器输入值y(i)中，计算取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))的针对探测器元件的系数sn(j)以及取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))的针对X射线辐射器的系数qm(i)，其中，对系数sn(j)、qm(i)的计算可以通过求解一个包括这些系数sn(j)、qm(i)、探测器输出信号x(i，j)和至少一个X射线辐射器输入值y(i)的方程组(4.2)来进行，该方程组的方程建立了在所述取决于探测器输出信号的强度函数S(x(i，j))和所述取决于X射线辐射器输入值的强度函数Q(y(i))之间的关系。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||