发明名称 用以形成具较佳导热性之应力矽材料的方法
摘要 在此揭示一种生成一SiGe层上覆一应力Si层的方法,其中该SiGe层具有一较佳的热传导性。在第一沉积步骤中,于一基板上沉积一第一层的Si或Ge层;在第二沉积步骤中,于该第一层上沉积前述Si或Ge之另一元素的一第二层;重复该第一及第二沉积步骤以形成一具有由复数层Si层及复数层Ge层组合而成的SiGe层。该Si层及Ge层之个别厚度系依据该组合的SiGe层之欲求的组成比而定(当每一层之Si层及Ge层约10厚时,典型可实现1:1的比例)。该组合的SiGe层之特征为一Si及Ge的数位合金层,其具有较该Si及Ge的随机合金层更高的热传导性。本方法可更包括在该组合的SiGe层上沉积一Si层的步骤;该组合的SiGe层的特征为一放松的SiGe层,且该Si层为一拉紧的Si层。为了在该SiGe层中达到更高的热传导性,可沉积该第一及第二层,使得每一层几乎由单一种同位素组成。
申请公布号 TW200607007 申请公布日期 2006.02.16
申请号 TW094126263 申请日期 2005.08.02
申请人 万国商业机器公司 发明人 贝卓史蒂芬W BEDELL, STEPHEN W.;陈华杰;福吉尔基斯;米契尔莱恩M MITCHELL, RYAN M.;沙达那戴芬卓K SADANA, DEVENDRA K.
分类号 H01L21/24;H01L21/20 主分类号 H01L21/24
代理机构 代理人 蔡坤财
主权项
地址 美国