发明名称 温度校正处理装置
摘要 热电堆及热敏电阻在制造阶段,在每个产品中产生标准离差。预想内置于完成品中的热电堆及热敏电阻的特性因每个产品而异。而且,在组装阶段的组装也存在标准离差等的影响,如果保障完成品的测量精度,则存在不能廉价提供的间题。本发明提供的温度校正处理装置,具有:测量相对温度差的受光部;测量上述受光部温度的温度测量电路;和在上述受光部中加上与上述每个监视区域之间的相对温度差、计算出该每个监视区域的温度、并输出计算结果的计算电路;其中在每次测量时,根据上述受光部的温度校正上述计算结果。
申请公布号 TW200606408 申请公布日期 2006.02.16
申请号 TW094126090 申请日期 2005.08.01
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 竹井洋次;月泽正雄
分类号 G01K15/00;G01K11/20 主分类号 G01K15/00
代理机构 代理人 刘緖伦
主权项
地址 日本