分离并再放置纳米颗粒的方法

摘要

本发明公开一种分离并再放置纳米颗粒的方法，包括下列步骤：1)将原子力显微镜针尖进行化学修饰；2)按常规方法利用原子力显微镜对固定在基底表面的纳米颗粒样品进行成像，然后选择所需进行纳米操纵的单个颗粒，并使该针尖与纳米颗粒接触；3)进一步使针尖的侧臂与该颗粒接触，并使该颗粒粘在针尖侧臂上，从而实现单个纳米颗粒的拾取；4)接着控制原子力显微镜将该粘有颗粒的针尖定位到所预设的基底表面位置，将纳米颗粒放置于该位置。从而能完成对纳米颗粒逐个进行拾取、转移、放置的一系列操纵，克服了其它纳米操纵方法无法将颗粒转移到其它基底、或只能进行二维“推动”操纵的局限性，为纳米水平的制造和控制提供一种新的有效手段。

主权项

1、一种分离并再放置纳米颗粒的方法，其包括下列步骤：1)将原子力显微镜针尖进行化学修饰；2)按常规方法利用原子力显微镜对固定在基底表面的纳米颗粒样品进行成像，然后选择所需进行纳米操纵的单个颗粒，并使该化学修饰后的针尖与该纳米颗粒接触；3)进一步控制原子力显微镜使其针尖的侧臂与该样品颗粒接触，并使该样品颗粒粘在针尖侧臂上，从而实现单个纳米颗粒的拾取分离；4)接着控制原子力显微镜将该粘有样品颗粒的针尖定位到所预设的基底表面位置，将纳米颗粒放置于该位置。