发明名称 光学用抗反射膜
摘要 提供抗反射性能及耐擦伤性优异、而且制造成本低之光学用膜。于基材膜之至少一侧之面上,依次积层包含(A)含电离放射线硬化树脂之2~20μm厚度的硬被覆层;(B)含电离放射线硬化树脂与金属氧化物且折射率在1.70~1.95范围之30~120nm厚度之高折射率层I;( C)含电离放射线硬化树脂与金属氧化物且折射率在1.60~1.70)范围之5~70nm厚度之高折射率层II;及( D)含矽氧烷系聚合物且折射率在1.37~1.47范围之60~180nm厚度之低折射率层之光学用膜。
申请公布号 TWI248870 申请公布日期 2006.02.11
申请号 TW091105292 申请日期 2002.03.20
申请人 琳得科股份有限公司 发明人 所司悟;小野泽丰;丸冈重信
分类号 B32B27/00;B32B7/02;G02B1/11 主分类号 B32B27/00
代理机构 代理人 何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;何秋远 台北市大安区敦化南路2段77号8楼
主权项 1.一种光学用抗反射膜,其特征为于基材薄膜之至 少一侧之表面上,依次积层(A)含电离放射线硬化树 脂之2~20m厚度之硬被覆层;(B)含电离放射线硬化 树脂与金属氧化物且折射率在1.70~1.95范围之30~120 nm厚的高折射率层I;(C)含电离放射线硬化树脂与金 属氧化物且折射率在1.60~1.70范围之5~70nm厚的高折 射率层II;及(D)含矽氧烷系聚合物且折射率在1.37~1. 47范围之60~180nm厚的低折射率层。 2.如申请专利范围第1项之光学用抗反射膜,其中(A) 层之硬被覆层为防眩性硬被覆层。 3.如申请专利范围第1项之光学用抗反射膜,其中(B) 层之高折射率层I中之金属氧化物为氧化钛及/或 锡掺杂氧化铟。 4.如申请专利范围第1或3项之光学用抗反射膜,其 中(C)层之高折射率层II中之金属氧化物为锑掺杂 氧化锡。 5.如申请专利范围第1项之光学用抗反射膜,其中(D) 层之低折射率层具有带电防止性能。 6.如申请专利范围第1项光学用抗反射膜,其系进一 步于(D)层上,设置(E)防污被覆层所形成。
地址 日本