发明名称 |
Verfahren zur Erzeugung eines Dielektrikums und Halbleiterstruktur |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Erzeugung eines Dielektrikums auf einem Halbleiterkörper mit den nacheinander vorzunehmenden Schritten: Bereitstellen eines Halbleiterkörpers, Aufbringen einer dielektrischen Schicht auf zumindest Teilen einer ersten Oberfläche des Halbleiterkörpers, derart, dass zumindest teilweise eine Grenzfläche zwischen der dielektrischen Schicht und dem Halbleiterkörper ausgebildet wird, und thermisches Annealen des Halbleiterkörpers und der dielektrischen Schicht. Das erfindungsgemäße Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass zeitlich vor dem Annealen zur Verbesserung der Absättigung und der elektrischen Eigenschaften fluorhaltige Teilchen in an die Grenzfläche angrenzende Bereiche des Halbleiterkörpers und/oder der dielektrischen Schicht eingebracht werden. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner eine entsprechende Halbleiterstruktur.
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申请公布号 |
DE102004031453(A1) |
申请公布日期 |
2006.02.09 |
申请号 |
DE200410031453 |
申请日期 |
2004.06.29 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
BIRNER, ALBERT;WEBER, ANDREAS;SCHLOESSER, TILL;LUETZEN, JOERN |
分类号 |
H01L21/314;H01L21/324;H01L21/336;H01L21/8242 |
主分类号 |
H01L21/314 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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