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发明名称
Auswerteverfahren für eine Dickenmessung an Objekten
摘要
申请公布号
DE19805200(B4)
申请公布日期
2006.02.09
申请号
DE19981005200
申请日期
1998.02.10
申请人
MICRO-OPTRONIC-MESSTECHNIK GMBH
发明人
ESCHKE, UWE;GEBHARDT, RICHARD;STAUTMEISTER, TORSTEN;PFERNER, DIETER
分类号
G01B11/00;G01B11/02;G01B11/06;G01B11/14
主分类号
G01B11/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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