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发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR LOCATING SHORT CIRCUIT FAULTS IN ANINTEGRATED CIRCUIT LAYOUT
摘要
申请公布号 CA2573729(A1) 申请公布日期 2006.02.09
申请号 CA20052573729 申请日期 2005.08.03
申请人 SEMICONDUCTOR INSIGHTS INC. 发明人 BEGG, STEPHEN;ABT, JASON;GONT, VAL;KEYES, EDWARD;ZAVADSKY, VYACHESLAV L.;AITNOURI, ELMEHDI
分类号 G06F17/50;G01R31/303 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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