| 发明名称 | 光检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明的目的是提供一种输入光强度检测的动态范围广并且能够高速地检测入射光强度的光检测装置。各光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)产生对应于入射光强度量的电荷(Q)。电荷量电平判断电路(10<SUB>m,n</SUB>)与光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)对应设置，判断该光电二极管(PD<SUB>m,n</SUB>)产生的电荷(Q)的量的电平，输出表示该电平判别结果的电平信号(Level)，积分电路(20<SUB>m</SUB>)的积分电容部21从N个电荷量电平判断电路(10<SUB>m,1</SUB>～10<SUB>m,N</SUB>)各自顺序地输出，基于输入的电平信号(Level)设定电容值，积分电路(20<SUB>m</SUB>)在积分电容部(21)中积蓄从N个光电二极管(PD<SUB>m,1</SUB>～PD<SUB>m,N</SUB>)各自顺序地输出而输入到该输入端的电荷(Q)，从输出端输出对应该积蓄的电荷(Q)的量的电压值(V<SUB>20</SUB>)。 | ||
| 申请公布号 | CN1732377A | 申请公布日期 | 2006.02.08 |
| 申请号 | CN200380107779.7 | 申请日期 | 2003.12.25 |
| 申请人 | 浜松光子学株式会社 | 发明人 | 铃木保博;水野诚一郎 |
| 分类号 | G01J1/44(2006.01);G01T1/20(2006.01);H01L27/146(2006.01);H01L31/10(2006.01);H04N5/335(2006.01) | 主分类号 | G01J1/44(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 1.一种光检测装置，其特征在于，包括：各个产生对应于入射光强度的量的电荷的N个(N为2以上的整数)光电二极管；分别对应于所述N个光电二极管而设置的、判断各光电二极管产生的电荷量的电平，并输出表示该电平判断结果的电平信号的N个电荷量电平判断电路；具有电容值可变并基于所述电平信号来设定该电容值的积分电容部，在所述积分电容部内积蓄有输入到输入端的电荷，从输出端输出对应于该积蓄的电荷量的电压值的积分电路；与所述N个光电二极管分别对应而设置的、在各光电二极管和所述积分电路的输入端之间设置的第一开关；以及与所述N个电荷量电平判断电路分别对应而设置的、在各电荷量电平判断电路和所述积分电容部之间设置的第二开关。 | ||
| 地址 | 日本国静冈县 | ||