发明名称 |
制造控制方法 |
摘要 |
一种用简单方法高精度地进行近红外吸收分析、根据所得到的分析结果就能用简单操作高精度地进行制造工艺控制的制造控制方法,其中,对多个标准试样得到包括近红外区域的分析区域的吸收光谱,算出所选择波长的平均强度和标准偏差并建成数据库,对分析试样得到上述分析区域的吸收光谱并与数据库比较,根据数据库化的标准试样的标准偏差判定分析试样的吸收光谱强度是否在所确定的允许值的范围内,在包含显示出允许值范围外的强度的波长的情况下,把显示出范围外的强度的波长与事先数据库化的制造信息对比而得到控制数据,把所得到的控制数据输入制造工艺中进行控制,就能得到允许值在上述范围内的制品。 |
申请公布号 |
CN1241076C |
申请公布日期 |
2006.02.08 |
申请号 |
CN01802241.3 |
申请日期 |
2001.08.06 |
申请人 |
三井化学株式会社 |
发明人 |
三谷敏治;鹤冈正己;三好保男 |
分类号 |
G05B13/02(2006.01);G01N1/00(2006.01);G01N21/27(2006.01);G01N21/35(2006.01);G01J3/42(2006.01);C08G63/78(2006.01);C08F2/00(2006.01);C07C37/08(2006.01) |
主分类号 |
G05B13/02(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
刘元金;杨丽琴 |
主权项 |
1.一种制造控制方法,包含对从制造工艺中得到的多个标准试样,得到包含近红外区域的分析区域的吸收光谱,对所述分析区域内包含的光谱中选择出来的选择波长,算出标准试样的平均强度和标准偏差,并建成数据库,对从制造工艺中得到的分析试样,得到所述分析区域的吸收光谱,将所得到的吸收光谱与数据库比较,求出所述选择波长上分析试样吸收光谱的分析强度对标准平均强度的偏差,在包含显示出分析试样吸收光谱的分析偏差在允许值范围之外的分析强度的任何波长的情况下,将显示出范围外分析偏差的波长与事先数据库化的制造信息对比,得到控制数据,将所得到的控制数据输入制造工艺中进行控制,从而得到允许值范围内的制品。 |
地址 |
日本东京都 |