| 发明名称 | 液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法 | ||
| 摘要 | 本发明一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，包含有下列步骤：A.建立一比对样式，该比对样式是由液晶基板上的一个正常显示点以及其周围正常显示点所形成，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点做为比对点，该二比对点之间在X轴及Y轴上至少有一轴具有距离差，并定义出位于的正常显示点与该二比对点间的距离差；B.依前所定义的比对样式，于液晶基板上的瑕疵显示点周围与该二比对点相同位置的正常显示点做为基准，比对出瑕疵显示点的精确位置；由上述步骤，可利用瑕疵显示点周围的正常显示点来定位出瑕疵显示点的精确位置。 | ||
| 申请公布号 | CN1731241A | 申请公布日期 | 2006.02.08 |
| 申请号 | CN200410055964.2 | 申请日期 | 2004.08.04 |
| 申请人 | 东捷科技股份有限公司 | 发明人 | 王正宇;萧贤德;李炳寰 |
| 分类号 | G02F1/1333(2006.01);G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G02F1/1333(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 周国城 |
| 主权项 | 1.一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其特征在于包含有下列步骤：A、建立一比对样式，该比对样式是由液晶基板上的一个正常显示点以及其周围正常显示点所形成，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点做为比对点，该二比对点之间在X轴及Y轴上至少有一轴具有距离差，并定义出位于中央的正常显示点与该二比对点间的距离差；B、依前所定义的比对样式，于液晶基板上的瑕疵显示点周围与该二比对点相同位置的的正常显示点做为基准，比对出瑕疵显示点的精确位置；由上述步骤，可利用瑕疵显示点周围的正常显示点来定位出瑕疵显示点的精确位置。 | ||
| 地址 | 台湾省台南县 | ||