发明名称 具有横向达通二极管的电阻(R)-电容(C)-二极管(D)网络薄膜集成电路结构与制造
摘要 本发明公开一种具有横向达通二极管的电阻(R)-电容(C)-二极管(D)网络薄膜集成电路结构及制作,采用普通硅片(P)制作具有高导电层和过冲电压保护的网络薄膜集成电路,不采用硅外延或外延工艺,并且缩短工艺流程,降低集成电路制造成本。本发明中硼扩散形成的P<SUP>+</SUP> (11)区,既为集成电路的公共接地导电层,又是交叉脂状横向“达通”二极管(D)的“基区”和电容(C)的下电极,磷扩散形成的N<SUP>+</SUP> (22)是横向“达通”二极管的“发射区”。P<SUP>+</SUP>区和N<SUP>+</SUP>区之间W区是横向“达通”二极管反向偏压时的达通区。采用化学气相沉积法制造出硅片表面上的SiO<SUB>2</SUB>和Si<SUB>3</SUB>N<SUB>4</SUB>绝缘电介质层(31),它也是电容(C)的电介质层;再在此电介质层上沉积制作电阻(R)(32)和电容(C)(33)的掺磷多晶硅层。金属铝层作为金属化层,光刻后,形成电路内互连线,压点区铝层(43)和接地区(G)的压焊点。沉积掺磷SiO<SUB>2</SUB> (34)形成芯片钝化层,光刻出压焊点(43)和接地点(G)制成芯片。
申请公布号 CN1731582A 申请公布日期 2006.02.08
申请号 CN200510010044.3 申请日期 2005.05.30
申请人 黑龙江八达通用微电子有限公司 发明人 刘振茂;陶盛;孙芳魁;丁峰;李开国;赵晖;金妍
分类号 H01L27/02(2006.01);H01L21/82(2006.01) 主分类号 H01L27/02(2006.01)
代理机构 哈尔滨市哈科专利事务所有限责任公司 代理人 刘娅;吴振刚
主权项 1.一种具有横向达通二极管的电阻(R)-电容(C)-二极管(D)网络薄膜集成电路结构,共有数值相同的4×N(N为正整数)个电阻器和4×N个电容器Ci(i=1,2………16),以及4×N个二极管Di(i=1,2………16),以及N个接地点Gi(i=1,2,3,4);串联的电阻-电容,并联上二极管;电容的一个电极及与之相连的二极管阳极(基区)与地相连;电容的另一个电极板与电阻器一端相连,电阻器另一端与二极管阴极(发射区)相连,共同形成一个与外电路连接的连接点Pi(i=1,2………16);每4个电阻-电容-二极管组合,结构相对于对称线CL1和CL2成对称分布,经复制,可以得到16个电阻-电容-二极管组合及4个接地点Gi(i=1,2,3,4);其特征在于:利用普通电阻率硅片,制造横向达通击穿交叉脂状结构二极管,硼扩散形成的P+(11)区,既为集成电路的公共接地导电层,又是交叉脂状横向“达通”二极管(D)的“基区”和电容(C)的下电极,磷扩散形成的N+(22)是横向“达通”二极管的“发射区”;P+区和N+区之间W区是横向“达通“二极管反向偏压时的达通区;采用化学气相沉积法制造出硅片表面上的SiO2和Si3N4绝缘电介质层(31),是电容(C)的电介质层;再在此电介质层上沉积制作电阻(R)(32)和电容(C)(33)的掺磷多晶硅层;金属铝层作为金属化层,光刻形成电路内互连线,压点区铝层(43)和接地区(G)的压焊点;沉积掺磷SiO2(34)形成芯片钝化层,光刻出压焊点(43)和接地点(G)。
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