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发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Detektion von Rissen in Wabenstrukturmaterial
摘要
申请公布号 DE60302945(D1) 申请公布日期 2006.02.02
申请号 DE20036002945 申请日期 2003.07.11
申请人 NGK INSULATORS, LTD. 发明人 HIJIKATA, TOSHIHIKO
分类号 G01N33/38;B32B3/00;G01N3/00;G01N3/30;G01N3/303 主分类号 G01N33/38
代理机构 代理人
主权项
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