| 发明名称 |
Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE50108516(D1) |
申请公布日期 |
2006.02.02 |
| 申请号 |
DE20015008516 |
申请日期 |
2001.08.09 |
| 申请人 |
ATG TEST SYSTEMS GMBH & CO.KG |
发明人 |
LUTZ, GUENTER |
| 分类号 |
G01R1/06;G01B11/06;G01N21/41;G01N21/88;G01N21/956;G01R1/073;G01R31/02;G01R31/28;G01R31/302;G06K9/64 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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