IC-TEST PROGRAMMIERSYSTEM ZUR ZUORDNUNG LOGISCHER FUNKTIONSTESTDATEN VON LOGISCHEN INTEGRIERTEN SCHALTUNG ZU EINER PHYSIKALISCHEN DARSTELLUNG,申请号DE19996024296T-传众专利搜索

发明名称	IC-TEST PROGRAMMIERSYSTEM ZUR ZUORDNUNG LOGISCHER FUNKTIONSTESTDATEN VON LOGISCHEN INTEGRIERTEN SCHALTUNG ZU EINER PHYSIKALISCHEN DARSTELLUNG
摘要
申请公布号	DE69924296(T2)	申请公布日期	2006.02.02
申请号	DE19996024296T	申请日期	1999.11.12
申请人	FEI CO., HILLSBORO;TEXAS INSTRUMENTS INC., DALLAS	发明人	SMITH, SHAWN;BALACHANDRAN, HARI;PARKER, JASON;WATTS BUTLER, STEPHANIE
分类号	G01R31/317;G01R31/28;G01R31/3183;G11C29/00;H01L21/66	主分类号	G01R31/317
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