发明名称 Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung
摘要 Mikroskop mit erhöhter Auflösung und linienförmiger Abtastung, wobei die Probe mit einem ersten und einem zweiten Beleuchtungslicht beleuchtet wird, wobei das erste Beleuchtungslicht eine Anregung der Probe bewirkt und das zweite Beleuchtungslicht durch die Beugung kohärenten Lichts an einer periodischen Struktur erzeugt wird und in einer lateralen Strahlrichtung und in axialer Strahlrichtung eine periodische Struktur aufweist.
申请公布号 DE102004034996(A1) 申请公布日期 2006.02.02
申请号 DE200410034996 申请日期 2004.07.16
申请人 CARL ZEISS JENA GMBH 发明人 WOLLESCHENSKY, RALF
分类号 G01N21/64;G02B21/00;G02B21/24 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人
主权项
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