发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 本发明提供一种具有贯穿电极之半导体装置之制造方法,可提升半导体装置之可靠性以及良率。该制造方法系在对应焊垫电极(11)的位置形成贯穿半导体基板(10)的贯穿孔(16)。接着,在包含贯穿孔(16)之半导体基板(10)的背面上形成绝缘膜(17)。然后,于半导体基板(10)之背面上,形成贯穿孔(16)之开口部边缘具有突出部(18a)的补强用绝缘膜(18)。接着,以补强用绝缘膜(18)做为遮罩,蚀刻去除该底部之绝缘膜(17),并保留贯穿孔(16)侧壁的绝缘膜(17)。接着,在包含贯穿孔(16)之半导体基板(10)的背面,形成贯穿电极(21)、配线层(22)、以及导电端子(24)。最后,藉由切割,将半导体基板(10)切断分离成半导体晶片(10A)。
申请公布号 TW200605281 申请公布日期 2006.02.01
申请号 TW094120550 申请日期 2005.06.21
申请人 三洋电机股份有限公司;富士通股份有限公司;电气股份有限公司 发明人 梅本光雄;星野雅孝;寺尾博
分类号 H01L23/055 主分类号 H01L23/055
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本