晶圆及追踪晶片位置之方法

摘要

一种追踪晶片位置之方法，包括提供半导体晶圆，此晶圆具有复数晶片。给予每一晶片一标记。根据每一晶片之该标记，取得每一晶片在晶圆之对应位置。本发明主要目的在于根据该标记找出每一晶片切割之前所在之晶圆与晶圆上之位置。