发明名称 以能量耗散层改进低介电常数电介质器件的稳定性
摘要 本发明提供一种塑性和/或粘弹性变形层,该变形层可以和低k电介质(k小于4.0)联合使用以提供一种具有改善的稳定性的电子半导体结构。变形层可以包含在电子结构中的各种地方以耗散结构中的能量,这种能量可以引起低k电介质材料断裂或分层。而且,电子结构中存在变形层提高了合成结构的整体强度。
申请公布号 CN1728374A 申请公布日期 2006.02.01
申请号 CN200510083277.6 申请日期 2005.07.08
申请人 国际商业机器公司 发明人 陈行聪;斯特法尼·R·奇拉斯;迈克尔·莱恩;林庆煌;罗伯特·罗森伯格;托马斯·M·肖;特里·A·斯普纳尔
分类号 H01L23/52(2006.01);H01L21/31(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L23/52(2006.01)
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 付建军
主权项 1、一种电子结构,它包括至少一层塑性或粘弹性变形层。
地址 美国纽约