发明名称 一种栅氧化工艺的热处理方法
摘要 本发明公开了一种栅氧化工艺的热处理方法,在现有的栅氧化工艺流程中,将氧气加入退火工艺,使现有工艺中的纯氮气退火改为本发明的氮氧混合气体退火。本发明在不影响硼穿通和HCI的前提下,可以改善栅氧化的周期噪声表现。本发明可用于半导体集成电路及分离器件的制造工艺。
申请公布号 CN1728339A 申请公布日期 2006.02.01
申请号 CN200410053293.6 申请日期 2004.07.29
申请人 上海华虹NEC电子有限公司 发明人 姚泽强;虞军毅;刘忠来
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L21/324(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人 丁纪铁
主权项 1、一种栅氧化工艺的热处理方法,其特征在于:在N2O退火之后的热处理过程中,加入少量氧气,使整个氧化过程分为三段:1、主氧化:小流量的湿氧,800℃;2、N2O退火,900℃;3、在随后的退火氮气中掺入氧气,此时生长的氧化层将原先已产生的氧化层推离硅/二氧化硅的界面,减少TRAP在硅/二氧化硅的界面的浓度。
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