发明名称 半导体存储器装置,存取架构以及其操作的方法
摘要 本发明提供一种半导体存储器装置,存取架构以及其操作的方法,所述半导体存储器装置,其包括第一装置、第二装置、以及存储单元。第一装置耦接多个第一导线,用以在第一导线上产生小幅差动信号。第二装置,透过第一导线耦接第一装置。存储单元透过多个第二导线耦接第二装置,用以感应在第一导线上的小幅差动信号,以及根据小幅差动信号以在第二导线上产生全幅信号,并储存全幅信号。本发明所述半导体存储器装置,存取架构以及其操作的方法,可提高元件运行速度,且特别适用于大容量存储器装置。
申请公布号 CN1728280A 申请公布日期 2006.02.01
申请号 CN200510081552.0 申请日期 2005.07.01
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 黄建华
分类号 G11C11/409(2006.01);G11C11/419(2006.01) 主分类号 G11C11/409(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇
主权项 1、一种半导体存储器装置,所述半导体存储器装置包括:一第一装置,耦接多个第一导线,用以在该第一导线上产生一小幅差动信号;一第二装置,透过该第一导线,耦接该第一装置;以及一存储单元,透过多个第二导线耦接该第二装置,第二装置用以感应在该第一导线上的该小幅差动信号,以及根据该小幅差动信号以在该第二导线上产生一全幅信号,并储存该全幅信号的电位至存储单元。
地址 台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号