WEFER TEST APPARATUS,申请号KR20040057228-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	WEFER TEST APPARATUS
摘要
申请公布号	KR20060007834(A)	申请公布日期	2006.01.26
申请号	KR20040057228	申请日期	2004.07.22
申请人	SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.	发明人	CHA, JEONG MIN
分类号	H01L21/66;H01L21/68	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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