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发明名称 METHOD FOR DETECTING FAIL OF TEST VECTOR
摘要
申请公布号 KR20060007785(A) 申请公布日期 2006.01.26
申请号 KR20040057157 申请日期 2004.07.22
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 KIM, JUN SUNG;KIM, KI YEUL;JIE, HANG SOK
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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