发明名称 |
纳米级设计结构、其制造方法及设备以及在掩模修复、增强和制造上的应用 |
摘要 |
使用直接写入纳米构图修复和制造光掩模,包括:使用扫描探针显微镜尖端以淀积包含溶胶-凝胶和金属墨汁的墨汁材料。添加方法能够与减去方法相结合。可以使用纳米结构填充孔。可以控制填充孔的纳米结构的高度,而不会损失对纳米结构的横向尺寸的控制。可以使用和制造玻璃上的铬掩模,以及更先进的掩模,包括用于纳米压印纳米构图的掩模。 |
申请公布号 |
CN1726431A |
申请公布日期 |
2006.01.25 |
申请号 |
CN200380105744.X |
申请日期 |
2003.10.21 |
申请人 |
纳米墨水公司 |
发明人 |
珀西·范克罗克;西尔万·克吕雄-迪佩拉;利内特·德默斯;罗伯特·埃勒加尼安;圣迪普·迪萨维尔;纳比勒·阿姆鲁;张华 |
分类号 |
G03F1/00(2006.01);B82B3/00(2006.01) |
主分类号 |
G03F1/00(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
王玉双;潘培坤 |
主权项 |
1.一种在半导体工业中添加掩模修复的方法,其能够精确控制横向尺寸和高度,该方法包括:从尖端通过直接写入纳米构图将材料淀积到有缺陷的掩模,用以进行添加修复。 |
地址 |
美国伊利诺斯州芝加哥 |