发明名称 垫高源/漏极区的半导体组件制造方法
摘要 一种半导体组件制造方法,在基板上形成垫高的源/漏极区域的半导体组件。此源/漏极区域的垫高部在后续的金属硅化制造工艺做为反应的原料,避免消耗源/漏极区中原本存在的硅。形成一垫高用硅材料层于基板上,置于待形成的半导体组件的源/漏极区。在垫高用硅材料层上依序形成栅极介电质层和栅极电极层,形成栅极结构。依序进行轻掺杂布植,形成边墙间隔物及进行重掺杂布植。此垫高用硅材料层,用做金属硅化反应的原料,进行自动对准金属硅化制造过程。
申请公布号 CN1238888C 申请公布日期 2006.01.25
申请号 CN01110417.1 申请日期 2001.04.03
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 陈怡曦
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/334(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人 程伟
主权项 1.一种垫高源/漏极区的半导体元件制造方法,其特征是:包括下列步骤:形成一硅材料层于一基板上;形成一介电层于该硅材料层上;根据一光罩,对该介电层进行一光学微影蚀刻工艺,而暴露出部分该硅材料层;热氧化暴露的该硅材料层,而形成一热氧化层;以及去除该热氧化层和剩余的该介电层,用以形成用来形成一半导体元件的源/漏极区的一垫高硅材料层。
地址 中国台湾