| 发明名称 | 光检测装置 | ||
| 摘要 | 本发明的目的是要提供包含A/D变换电路可高速动作的光检测装置。在光检测装置(1)中，(K×M×N)个光敏二极管PD<SUB>k，m，n</SUB>在光检测部(10)中配置成M行(K×N)列，分别针对各行的(K×N)个光敏二极管(PD<SUB>k，m，n</SUB> (k＝1～K，n＝1～N))，在每个时间T进行处理(积蓄电荷，CDS，滤波，A/D变换)。分别在每个时间(N×T)进行积分电路(20<SUB>m，n</SUB>)的电荷积蓄动作，CDS电路(30<SUB>m，n</SUB>)的CDS动作，滤波器电路(40<SUB>m，n</SUB>)的滤波动作，和A/D变换电路(50<SUB>m，n</SUB>)的A/D变换动作处理。 | ||
| 申请公布号 | CN1726697A | 申请公布日期 | 2006.01.25 |
| 申请号 | CN200380106168.0 | 申请日期 | 2003.12.16 |
| 申请人 | 浜松光子学株式会社 | 发明人 | 铃木保博;水野诚一郎 |
| 分类号 | H04N5/335(2006.01);H01L27/146(2006.01) | 主分类号 | H04N5/335(2006.01) |
| 代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 1、一种光检测装置，其特征为，具有：分别产生与入射光强度相应的量的电荷的(K×M×N)个光敏二极管PDk，m，n(K为2以上的整数，k＝1以上K以下的各个整数，M为1以上的整数，m＝1以上M以下的各个整数，N为2以上的整数，n＝1以上N以下的各个整数)；与所述(K×M×N)个光敏二极管PDk，m，n中的每K个光敏二极管PDk，m，n(k＝1～K)对应设置一个的、依次输入和积蓄由该K个光敏二极管PDk，m，n(k＝1～K)分别产生的电荷的、输出与该积蓄的电荷的量相应的电压值的(M×N)个积分电路；和分别与所述(M×N)个积分电路中的每一个对应设置一个，输出与从各个对应的积分电路输出的电压值相应的数字值的A/D变换电路。 | ||
| 地址 | 日本静冈县 | ||