发明名称 一种集成电路和测试集成电路的复位操作方法
摘要 一种集成电路(2)设有用于测试正确操作的串行测试扫描链(10)。利用复位信号生成扫描链单元(20)可以测试异步复位信号操作,所述复位信号生成扫描链单元被这样适配,使得保存在该单元的锁存器(14)内的复位信号值由扫描使能信号以异步方式选通,从而加到受测试的电路部分(8)。被复位的正确操作强制为预定值的受测试电路部分内的锁存器(12)可以在复位测试之前被预先装入相反的读出值。
申请公布号 CN1238729C 申请公布日期 2006.01.25
申请号 CN01811330.3 申请日期 2001.06.29
申请人 ARM有限公司 发明人 R·R·格里森斯韦特
分类号 G01R31/3185(2006.01) 主分类号 G01R31/3185(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 杨凯;陈霁
主权项 1.一种集成电路,它包括:电路部分,其中具有至少一个电路部分锁存器,用以存储在所述电路部分接收到复位信号时被复位至预定复位值的信号值;以及一个或多个串行测试扫描链,它们各具有多个扫描链单元,所述串行测试扫描链中至少一个用以作为对所述电路部分正确操作的测试的一部分,存储测试信号并将测试信号加到所述电路部分,所述测试信号在扫描使能信号的控制下以与时钟信号同步的方式加到所述电路部分;其中所述串行测试扫描链包括复位信号生成扫描链单元,它用以在存储预定的复位信号值时,在所述扫描使能信号的控制下,以与所述时钟信号不相关且与之异步的方式生成所述复位信号。
地址 英国剑桥郡