发明名称 |
来自二进制采样测量的模拟波形信息 |
摘要 |
对信号的二进制采样中的0或1进行计数的电路能够测量信号的模拟特性。通过这种技术,相对简单的电路能够执行利用基于BER的二进制采样技术难以获得的参数测量。低成本的二进制采样电路也能执行先前可能需要更复杂、更昂贵的模拟采样的测量。该新技术可应用于完备测试系统、低成本测试电路和片上测试电路。 |
申请公布号 |
CN1725648A |
申请公布日期 |
2006.01.25 |
申请号 |
CN200510085312.8 |
申请日期 |
2005.07.22 |
申请人 |
安捷伦科技有限公司 |
发明人 |
马修·M·布鲁恩斯特纳 |
分类号 |
H03M13/01(2006.01);H04L1/00(2006.01) |
主分类号 |
H03M13/01(2006.01) |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
王怡 |
主权项 |
1.一种测试系统,包括:模拟比较器,其被连接以将输出信号与可调整阈值电平相比较;二进制采样器,其被连接以对来自所述模拟比较器的输出信号进行采样,其中所述二进制采样器具有可调整相位,所述可调整相位确定被采样信号的相位;和计数器,其被连接以对来自所述二进制采样器的具有选定二进制状态的采样点进行计数。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |