发明名称 开窗型导线架式半导体封装结构及制程
摘要 型导线架式半导体封装结构及制程,其系采用开窗型导线架来作为晶片载具,且其特点在于将一开窗型垫片安置于晶片座与半导体晶片之间,藉此而使得同一规格的导线架可适用于封装各种大小尺寸之晶片。此特点可使得本发明之开窗型导线架式半导体封装技术于应用上较知技术更具有成本效益。此外,此开窗型垫片亦可附带地增加所封装之半导体晶片的散热效能。
申请公布号 TWI248176 申请公布日期 2006.01.21
申请号 TW090110815 申请日期 2001.05.07
申请人 矽品精密工业股份有限公司 发明人 邱仓铃;陈旭地;何宗达
分类号 H01L23/28 主分类号 H01L23/28
代理机构 代理人 陈昭诚 台北市中正区博爱路80号6楼
主权项 1.一种开窗型导线架式半导体封装制程,其至少包 含以下步骤: (1)预制一导线架,其包括复数支导脚和一晶片座; 该晶片座具有一实体之环状部和一空洞之开窗部, 且该开窗部具有一预定尺寸; (2)安置一开窗型垫片于该导线架的晶片座上;该开 窗型垫片具有一实体之环状部和一空洞之开窗部, 且该开窗型垫片的开窗部系大致对齐至该导线架 之晶片座的开窗部; (3)安置一半导体晶片于该开窗型垫片上; (4)进行一焊线程序,藉此而将该半导体晶片电性藕 接至该导线架的导脚;以及 (5)进行一封装胶体制程,藉此而形成一封装胶体, 用以包覆该半导体晶片。 2.如申请专利范围第1项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中步骤(1)中所述之导线架系为铜 制。 3.如申请专利范围第1项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中步骤(2)中所述之开窗型垫片的 热膨胀系数系介于该开窗型导线架的热膨胀系数 与该半导体晶片的热膨胀系数之间。 4.如申请专利范围第1项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中步骤(2)中所述之开窗型垫片系 藉由一导热性黏胶层而黏贴至该导线架之晶片座 的环状部。 5.如申请专利范围第4项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中该导热性黏胶层系为银胶。 6.如申请专利范围第1项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中步骤(3)中所述之半导体晶片系 藉由一导热性黏胶层而黏贴至该开窗型垫片的环 状部。 7.如申请专利范围第6项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中该导热性黏胶层系为银胶。 8.如申请专利范围第1项所述之开窗型导线架式半 导体封装制程,其中步骤(5)中所述之焊线系为金制 焊线。 9.一种开窗型导线架式半导体封装结构,其至少包 含以下构件: (a)一导线架,其包括复数支导脚和一晶片座;该晶 片座具有一实体之环状部和一空洞之开窗部,且该 开窗部具有一预定尺寸; (b)一开窗型垫片,其系安置于该导线架的晶片座上 ;该开窗型垫片具有一实体之环状部和一空洞之开 窗部,且该开窗型垫片的开窗部系大致对齐至该导 线架之晶片座的开窗部; (c)一半导体晶片,其系安置于该开窗型垫片的环状 部上; (d)一焊线组,其用以将该半导体晶片电性藕接至该 导线架的导脚;以及 (e)一封装胶体,其用以包覆该半导体晶片。 10.如申请专利范围第9项所述之开窗型导线架式半 导体封装结构,其中该导线架系为铜制。 11.如申请专利范围第9项所述之开窗型导线架式半 导体封装结构,其中该开窗型垫片的热膨胀系数系 介于该开窗型导线架的热膨胀系数与该半导体晶 片的热膨胀系数之间。 12.如申请专利范围第9项所述之开窗型导线架式半 导体封装结构,其中该开窗型垫片系藉由一导热性 黏胶层而黏贴至该导线架之晶片座的环状部。 13.如申请专利范围第12项所述之开窗型导线架式 半导体封装结构,其中该导热性黏胶层系为银胶。 14.如申请专利范围第9项所述之开窗型导线架式半 导体封装结构,其中该半导体晶片系藉由一导热性 黏胶层而黏贴至该开窗型垫片的环状部。 15.如申请专利范围第14项所述之开窗型导线架式 半导体封装结构,其中该导热性黏胶层系为银胶。 16.如申请专利范围第9项所述之开窗型导线架式半 导体封装结构,其中该焊线系为金制焊线。 图式简单说明: 第1A至1D图(习知技术)为结构示意图,其中显示一习 知之开窗型导线架式半导体封装技术于制程上的 各个主要步骤; 第2A至2D图为结构示意图,其中显示本发明之开窗 型导线架式半导体封装技术于制程上的各个主要 步骤。
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