发明名称 图像读取装置及图像读取方法
摘要 本发明之图像读取装置具备作为具有光检出用TFT与像素电容之光量变换元件之感测器基板及将电压施加至上述光检出用TFT之闸极,而将该光检出用TFT驱动成导通状态或断电状态之驱动IC。上述驱动IC在任意期间对上述光检出用TFT之闸极施加与使该光检出用TFT成为断电状态之电压之平均极性相反极性之电压。藉此,提供可抑制在短时间显现之光检出用TFT特性(电阻值)之变动之图像读取装置。
申请公布号 TWI248204 申请公布日期 2006.01.21
申请号 TW092127986 申请日期 2003.10.08
申请人 夏普股份有限公司 发明人 和泉良弘;上原和弘;尾田智彦;寺沼修
分类号 H01L27/146;H04N5/335 主分类号 H01L27/146
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 1.一种图像读取装置,其特征为利用具有光响应性 之薄膜电晶体作为光检出元件者,且具备: 驱动机构,其系将电压施加至上述薄膜电晶体之闸 极,而将该薄膜电晶体驱动成导通状态或断电状态 者; 上述驱动机构在任意期间对上述闸极施加与使上 述薄膜电晶体成为断电状态之电压之平均极性相 反极性之电压。 2.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中上述 之任意期间系不施行图像读取之期间。 3.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中在上 述任意期间施加电压之时间设定为显示上述薄膜 电晶体之明电流之相对变化之比包括在0.9 ~1.1之 范围内。 4.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中上述 任意期间为上述薄膜电晶体驱动之全部期间之3%~ 30%之期间。 5.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中以任 意周期连续地读取图像时,该周期为0.1Hz~10Hz。 6.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中上述 光检出元件兼作用于选择像素之像素选择元件。 7.如申请专利范围第1项之图像读取装置,其中在上 述任意期间施加至闸极之电压之电位系设定为和 上述薄膜电晶体成为导通状态之电压之电位相等 。 8.一种图像读取装置,其特征为利用具有光响应性 之薄膜电晶体作为光检出元件者,且具备: 驱动电路,其系将电压施加至上述薄膜电晶体之闸 极,而将该薄膜电晶体驱动成导通状态或断电状态 者; 上述驱动电路在任意期间对上述闸极施加与使上 述薄膜电晶体成为断电状态之电压之平均极性相 反极性之电压。 9.一种平板扫描器,其特征为具备利用具有光响应 性之薄膜电晶体作为光检出元件之图像读取装置 者,且具备: 驱动电路,其系将电压施加至上述薄膜电晶体之闸 极,而将该薄膜电晶体驱动成导通状态或断电状态 者; 上述驱动电路在任意期间对上述闸极施加与使上 述薄膜电晶体成为断电状态之电压之平均极性相 反极性之电压。 10.一种手提式扫描器,其特征为具备利用具有光响 应性之薄膜电晶体作为光检出元件之图像读取装 置者,且具备: 驱动电路,其系将电压施加至上述薄膜电晶体之闸 极,而将该薄膜电晶体驱动成导通状态或断电状态 者; 上述驱动电路在任意期间对上述闸极施加与使上 述薄膜电晶体成为断电状态之电压之平均极性相 反极性之电压。 11.一种图像读取方法,其特征为利用检出包含具有 光响应性之薄膜电晶体与连接于该薄膜电晶体之 储存电容之光电变换元件之光电变换量,以读取原 稿图像者,且执行: 充特定量电荷至上述储存电容之第1步骤; 在对上述储存电容之电荷充电完毕后,使上述薄膜 电晶体成为断电状态,利用对该薄膜电晶体之光照 射,将充电于上述储存电容之电荷放电之第2步骤; 在上述电荷放电后求出上述储存电容之残存电荷 量,以检出上述光电变换元件之光电变换量之第3 步骤;及以3个步骤作为图像读取之1周期时, 在由上述第3步骤转移至次一周期之第1步骤之期 间内,执行对上述薄膜电晶体之闸极施加与使该薄 膜电晶体成为断电状态之电压之平约极性相反极 性之电压之第4步骤。 12.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中在 上述第4步骤施加电压至闸极之时间设定为显示上 述薄膜电晶体之明电流之相对变化之比包括在0.9~ 1.1之范围内。 13.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中上 述第4步骤系以多数周期1次之比例被执行。 14.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中上 述第4步骤系在相当于上述薄膜电晶体驱动之全部 期间之3%~30%之期间被执行。 15.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中上 述周期系0.1Hz~ 10Hz。 16.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中在 上述第4步骤施加至闸极之电压之电位系设定为等 于使上述薄膜电晶体成为导通状态时之电压之电 位。 17.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中在 次一周期之第1步骤之充特定量电荷至储存电容之 期间,进行上述第4步骤之施加电压至闸极。 18.如申请专利范围第11项之图像读取方法,其中上 述薄膜电晶体兼作用于选择像素之像素选择元件 与光检出元件。 图式简单说明: 图1系本发明之一实施形态之图像读取装置之概略 构成区块图。 图2系具有图1所示之图像读取装置之二维图像感 测器之概略构成区块图。 图3系图1所示之图像读取装置之概略构成剖面图 。 图4系设置于图2所示之二维图像感测器之感测器 基板之概略区块图。 图5系表示图1所示之图像读取装置之动作流程之 流程图。 图6系图2所示之二维图像感测器之等效电路图。 图7系图1所示之图像读取装置之读出动作之时间 图。 图8系表示图1所示之图像读取装置之读出动作之 顺序之图。 图9系表示图8所示之顺序之扫描之时间图。 图10系图2所示之二维图像感测器之另一等效电路 图。 图11系图1所示之图像读取装置之读出动作之补偿 驱动之顺序之图。 图12系表示图11所示之顺序之扫描A之时间图。 图13系表示图11所示之顺序之扫描B之时间图。 图14系表示图11所示之顺序之扫描C之时间图。 图15系图1所示之图像读取装置之读出动作之另一 补偿驱动之顺序之图。 图16系图1所示之图像读取装置之读出动作之又另 一补偿驱动之顺序之图。 图17系表示图16所示之顺序之扫描A之时间图。 图18系表示图16所示之顺序之扫描A+B之时间图。 图19系图1所示之图像读取装置之读出动作之又另 一补偿驱动之顺序之图。 图20系图1所示之图像读取装置之读出动作之又另 一补偿驱动之顺序之图。 图21系设置于本发明之另一实施形态之图像读取 装置之二维图像感测器之感测器基板之概略构成 区块图。 图22系设置于上述二维图像感到器之图像读取装 置之概略构成区块图。 图23系表示图22所示之图像读取装置之读出动作之 时间图。 图24系图22所示之图像读取装置之读出动作之补偿 驱动之顺序之图。 图25系表示图24所示之顺序之扫描A之时间图。 图26系表示图24所示之顺序之扫描B之时间图。 图27系表示图24所示之顺序之扫描C之时间图。 图28系表示输入补偿信号之时间之时间图。 图29系表示补偿信号期间与TFT之特性变动带来之I photo之相对变化之关系之曲线图。 图30系用于导出图29所示之曲线之TFT之概略剖面图 。 图31系表示帧频率与TFT之特性变动带来之I photo之 相对变化之关系之曲线图。 图32系表示TFT之闸极电流与源极汲极闸电流对光 照射之特性之曲线图。 图33系表示TFT单体在探针测定下之TFT电阻値之时 间经过之变化之曲线图。
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