发明名称 |
Testvorrichtung und Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten |
摘要 |
Die Erfindung schafft eine Testvorrichtung zum Testen einer zu testenden Schaltungseinheit (101) mit einem Testsystem (100), einem Steuerbus (102) zur Übertragung von Steuerdaten (106), einem Adressbus (103) zur Übertragung von Adressierungsdaten (107) und einem Datenbus (104) zum Austauschen von Testdaten (108) zwischen dem Testsystem (100) und der zu testenden Schaltungseinheit (101). Eine zwischen das Testsystem (100) und die zu testende Schaltungseinheit (101) geschaltete Spannungserzeugungseinrichtung (200) dient zur Erzeugung eines vorgebbaren Betriebsspannungsausgangssignals (202, 202a-202n) zur Spannungsversorgung der zu testenden Schaltungseinheit (101) in Abhängigkeit eines von dem Testsystem (100) bereitgestellten und über den Steuerbus (102) zugeführten Steuersignals (211).
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申请公布号 |
DE102004027854(A1) |
申请公布日期 |
2006.01.19 |
申请号 |
DE200410027854 |
申请日期 |
2004.06.08 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
THALMANN, ERWIN;MOSER, MANFRED;MYSLIWITZ, DANIEL |
分类号 |
G01R31/12;G01R31/317;G01R31/3183;G01R31/319;G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/12 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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