| 发明名称 | 包括具有集成的独立测试器的传输通路的集成电路 | ||
| 摘要 | 本发明涉及包括含有射频的信号传输通路(TX)和内建测试器(TEST)的集成电路(IC)，所述测试器旨在测试所述集成电路(IC)的无线电特性，所述测试器(TEST)包括：第一装置(COUPL)，用于在第一频率(F0)下恢复由传输通路(TX)产生的部分信号；第二装置(M)，用于将所述恢复的信号从第一频率(F0)转换到第二频率(F1)；放大器(A)，用于在该第二频率(F1)下放大所述信号；整流器(R)，用于整流所述信号。 | ||
| 申请公布号 | CN1723641A | 申请公布日期 | 2006.01.18 |
| 申请号 | CN200380105576.4 | 申请日期 | 2003.12.01 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | B·阿格努斯;Y·格拉塞特 |
| 分类号 | H04B17/00(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | H04B17/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 吴立明;梁永 |
| 主权项 | 1、一种集成电路(IC)，包括含有射频的信号传输通路(TX)和旨在测试所述集成电路的无线电特性的集成测试器(TEST)，所述测试器(TEST)包括：-第一装置(COUPL)，用于在第一频率(F0)下恢复由传输通路(TX)产生的部分信号，-第二装置(M)，用于将所述恢复的信号从第一频率(F0)转换到第二频率(F1)，-放大器(A)，用于在该第二频率(F1)下放大所述信号，和-整流器(R)，用于整流所述信号。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||