发明名称 薄膜晶体管及其制造
摘要 制造底栅晶体管的一种方法,包括在栅绝缘体层(22a)上沉积第一微晶硅层(40),并且将微晶硅层暴露于氮等离子体(42),从而形成具有结晶结构的氮化硅。以此方式制成微晶氮化硅多层。在暴露层上再沉积一层微晶硅层,用来构成晶体管的半导体本体(14)。本方法使得晶体管本体的底部具有微晶结构,改善了半导体层的迁移率,甚至在与栅绝缘体层的界面。暴露的氮化硅层成为栅绝缘体层的部件,并且栅绝缘体层与半导体晶体管本体之间的结构性匹配得到了改善,因为这些层是从相同的微晶硅结构延伸来的。
申请公布号 CN1237590C 申请公布日期 2006.01.18
申请号 CN01802066.6 申请日期 2001.07.04
申请人 皇家菲利浦电子有限公司 发明人 A·J·弗莱维特
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/786(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 吴立明;张志醒
主权项 1.一种制造晶体管的方法,包括:(i)在绝缘基板上确定一个栅导体;(ii)在栅导体上形成一个栅绝缘体层;(iii)在栅绝缘体层上沉积第一微晶硅层;(iv)将微晶硅层曝露于氮等离子体,从而形成氮化硅,而且控制等离子体条件以保持结晶结构;(v)重复步骤(iii)和(iv)以便形成多个微晶硅层;(vi)在曝露层上再形成一层微晶硅层,所述再形成的一层微晶硅层构成晶体管的半导体本体;以及(vii)在晶体管本体上限定一个源和漏结构。
地址 荷兰艾恩德霍芬
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