半导体装置、其电气检查方法及具备该装置之电子机器

摘要

本发明系作为将电压VGL供应至LSI晶片用之VGL用配线，设有直接连接于LSI晶片之配线L1、及不直接连接于LSI晶片而连接于设在与电压VGH用之配线之间之电容器之一方电极之配线LB1，在配线L1与配线LB1分别设有电压输入端子。藉此，在内建电容器之半导体装置中，提供可缩短电气筛选用之测试(最终测试)时间以谋求降低成本之半导体装置、及其电气检查方法。