发明名称 雷射加工方法及加工对象物
摘要 〔课题〕提供一种雷射加工方法,在将形成有含有复数功能元件之积层部的基板,切断为具有功能元件之复数晶片时,可与基板一起高精度切断积层部。〔解决手段〕该雷射加工方法中,沿着各预定切断线5a~5d形成使对基板4产生裂纹的容易度互异的改质区域。因此当将伸展带贴附于基板4之背面使其扩张时,加工对象物1则分阶段切断为复数的半导体晶片。此种分阶段切断对沿各预定切断线5a~5d的部分产生均匀的拉伸应力作用,其结果可与基板4一起精度良好地切断预定切断线5a~5d上的层间绝缘膜。
申请公布号 TW200602143 申请公布日期 2006.01.16
申请号 TW094109512 申请日期 2005.03.28
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 本刚志;村松宪一
分类号 B23K26/00 主分类号 B23K26/00
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本