发明名称 正型光阻材料及使用其之图型形成方法
摘要 本发明系提供一种在使用高能量线曝光时,具有高感度、高解像性,可抑制显像时之膨润,因此线边缘粗糙度小,显像后之残渣较少之正型光阻材料。本发明之光阻材料系含有;具有下述式(1a)、(2a)及(1b)之重复单元的高分子化合物,094111223-p01.bmp(式中,R^1系H或CH3,R^2系H、醯基或酸不安定基,R^3系H、CH3或–CO2R^8;R^4系H、CH3,或–CH2CO2R^8;R^8系H或烷基,X为–CH2–、–O–或–S–,但是R^5~R^7全部为H时,则不为–CH2–;R^5~R^7为H、CH3或–CO2R^9;R^9系H或烷基。0≦a1/(a1+a2+b1)≦0.9;0≦a2/(a1+a2+b1)≦0.9;0<(a1+a2)/(a1+a2+b1)≦0.9;0<(b1)/(a1+a2+b1)≦0.8之数)。094111223-p01.bmp
申请公布号 TW200602809 申请公布日期 2006.01.16
申请号 TW094111223 申请日期 2005.04.08
申请人 信越化学工业股份有限公司 发明人 山润;金子达志
分类号 G03F7/039 主分类号 G03F7/039
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本